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CESHI威太高電流測試(HCT)

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HCT測試設(shè)備

時間:2020-10-09 15:12:05

HCT測試設(shè)備

 

  PCB 生產(chǎn)工藝過程中,長期因孔銅問題造成巨大經(jīng)濟&品牌價值損失,同時給終端客戶帶來極差使用體驗:

  通常用的測試方法:

  1. 可靠性測試鑒定方法:存在諸多漏洞,導(dǎo)致問題無法快速充分暴露。

  2.常規(guī)板材性能測試: 因靜態(tài)測試,無法模擬應(yīng)用場景,導(dǎo)致問題不能及時充分暴露,也無法建立應(yīng)用信賴性模型。

  HCT(High Current Test)測試方案由來:

  鑒于現(xiàn)有PCB性能,可靠性測試上的痛點,2007年 MOTOROLA 在《Reliability Test Methods For Copper Plated Filled Micro Via》報告中提出HCT方案

  HCT原理介紹

  在PCB基板邊料中,設(shè)計一個有一定阻值的測試模塊(Daisy Chain),利用模塊本身的電阻,將流經(jīng)模塊的電能轉(zhuǎn)換成熱能. 由于銅與介質(zhì)之間的CTE不匹配,導(dǎo)致介質(zhì)在受到熱沖擊下,所產(chǎn)生的形變遠大于銅的形變(如下圖),HCT測試通過對相關(guān)參數(shù)進行實時檢測以此來判斷各類型孔的鍵接能力

  HCT(High Current Test)高電流測試,主要應(yīng)用于PCB電路板制程監(jiān)控,針對HDI線路板中貫通孔、埋通孔、盲孔及盲埋孔的電鍍銅完整性及電鍍銅之間鍵結(jié)能力等存在的諸如(銅薄、銅厚、孔底分離等缺陷)可以進行有效偵測。

  HCT測試優(yōu)點

  及時性--在工藝生產(chǎn)過程中測試,及時檢出不良板,以減少風(fēng)險范圍的擴大

  安全性--利用排版間距設(shè)計測試模組進行測試,不會損失成品板。

  合理性--基于大數(shù)據(jù)分析,自動提供適合的測試條件

  靈活性--可以進行批量測試,可偵測作業(yè)過程中小批量的違規(guī)生產(chǎn)問題。

  持續(xù)性--將離散型品質(zhì)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成連續(xù)性量測數(shù)據(jù),利于對制程狀況及制程能力進行分析研究

  HCT可以借助統(tǒng)計基礎(chǔ)分析,管控批內(nèi)及批間變異,以偵測過程中的微小變異。





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